Goto page Previous 1, 2
Dykus
Guest
Mon Apr 28, 2008 8:59 pm
Witam,
Dnia 28.04.08 (poniedziałek), 'John Smith' napisał(a):
Quote:
Wystarczy zerknąć na tabele 66 w pdf-e aby się przekonać - Atmel częścią
analowową się nie przejmuje!
Ano właśnie, dlatego pytam, czy ktoś ma z tym jakieś doświadczenia.
Quote:
Dryft Vref nawet nie jest badany.
Całe szczęście, że błędy samego przetwornika podają. Ciekawe, czy Vref nie
opisują, bo jest takie słabe, ma żadną stabilność i się wstydzą...?

Dla
mnie byłoby lepiej, gdyby nawet podali 10mV/*C, niż nic. :)
Quote:
Miernika to z "tego" lepiej nie robić.
No chyba, że dołączymy zewnętrzne źródło. Fakt jest faktem, że takie w
SOT-23 dużo miejsca nie zajmuje, no ale...
--
Pozdrawiam,
Dykus.
BartekK
Guest
Mon Apr 28, 2008 9:04 pm
Grzegorz Kurczyk pisze:
Quote:
W aplikacjach, w których potrzebuję pomiaru trochę dokładniejszego od
miernika LAVO-1 stosuję programową kalibrację pomiaru. Załatwia to
przy okazji problem doboru ewentualnego dzielnika napięcia na wejściu.
No tak, ale to powoduje iż zależnie od Uref zastanego i zastanego
dzielnika R/R na wejściu - dobierasz inną kalibrację/podział/mnożnik
wartości zmierzonej, czyli dostajesz bliżej nie określoną kwantyzację
i błąd pomiaru... Chyba że mierzysz na 10 bitach a realnie używasz
7-8, resztę zaokrąglając?
Ma Kolega całkowitą rację. Dlatego pisałem o pomiarze trochę
dokładniejszym od LAVO-1

Np. stosowanie do dzielnika rezystorów 0,1%
przy tak niedokładnym Uref wydaje mi się lekkim przerostem formy nad
treścią. Jak potrzebny mi jest dokładniejszy pomiar to i tak nie
obejdzie się bez zewnętrznego Uref czy wręcz porządniejszego ADC.
Dlatego gdy potrzebuję mierzyć dokładniej to robię przeważnie to
inaczej. Wręcz "od drugiej strony" - wkładam stabilne Uref które wcale
nie zasila mi Uref Atmegi, tylko jest mierzone na jednym z wejść ADC
(albo częściej podłączane przez ten sam dzielnik który ma mierzyć U
docelowe). A Uref atmegi generuję ... atmegą z PWM 16bit z ładnym
filtrem typu TT.
Przy włączeniu lub okresowo dokonuję kalibracji - przełączam pomiar na
źródło o znanym napięciu i tak soft "kręci" pwm by uzyskać zakładany
pomiar ze źródła odniesienia. Trwa to chwilkę ale jest zdecydowanie
dokładniejsze, np:
- chcę mierzyć napięcie 0-10v przy adc 10bit czyli 1024 kroki, najlepiej
z prostą kwantyzacją "0.01v", czyli pomiar (przed dzielnikiem) 0.00v -
10.23v
- ADC może mierzyć tylko 0-Uref (a Uref powinno być od 2v do Ucc) więc
wstawiam dzielnik "jakiś", mniejwięcej 1/3, przy rezystorach 2% lub 5%
to i tak loteria.
- źródło odniesienia podłączam (przeważnie mikroprzekaźnikiem, ale
czasem coś typu 4066 też wystarcza) np 2.55 lub 2.56v - gdy je mierzę z
moim nieznanym podziałem - powinno wyjść binarnie 1/4 zakresu ADC, czyli
wynik z ADC = 0x00FF (przy dokładności 10bit). Tak kręcę PWM
(oczywiście z zachowaniem czasu na ustabilizowanie się napięcia) żeby
tyle uzyskać - i mamy kalibrację z głowy, teraz (niezależnie od Uref i
dzielnika) mam dokładny pomiar z kwantyzacją taką jak chciałem.
Jedynie stabilność Ucc ma wpływ na stabilność wartości wyfiltrowanej z
PWM, ale wystarczy albo raz-na-jakiś-czas robić kalibrację, albo wsadzać
sensowny stabilizator +5v
A przy okazji można tą metodą dokonać "automatycznej zmiany zakresu"
ustawiając pełne Uref (z kalibracji) oraz np połówkowe lub jeszcze
mniejsze itp, byle nie zchodzić poniżej 2V. Raz sprawdzić i ustawić
algorytm przeliczania PWM z pełnego na 'zaniżone' i zawsze to większa
dokładność przy pomiarach małych napięć, przy paru ostatnich bitach...
Swoją drogą (i całkiem nie w temacie chyba) to ciekawą sprawę zauważyłem
z tym Uref. Gdy Uref jest słabo filtrowane (ma szumy z pwm naniesione) a
pomiar jest dokonywany cyklicznie, wyniki z pomiarów sumowane i potem
dzielone przez liczbę pomiarów (przeważnie robię np 64 pomiary a wynik
przesuwałbym w prawo o 6 bitów, przesunę tylko o 5 i mam "bit po
przecinku") to uzyskuję dużo lepszą dokładność niż przy stałym Uref.
Tzn każdy z pomiarów jest dokonywany z pewnym błędem wynikającym z
oscylowania wokoło Uref, ale jak się je uśredni - to wychodzi dokładność
większa niż 1bit/kwantyzacja. Zmiana napięcia wejściowego o wartość
mniejszą niż kwantyzacja (np w podanym przykładzie o mniej niż 0.01v)
już powoduje że wartość średnia z tych 64pomiarów jest już inna.
Taki "oversampling" ? Jak będę miał chwilę to zrobię jakieś pomiary
laboratoryjne takich metod na ADC atmegi, co by wyznaczyć _realne_ błędy
i osiągane dokładności...
--
| Bartlomiej Kuzniewski
| sibi@drut.org GG:23319 tel +48 696455098
http://drut.org/
|
http://www.allegro.pl/show_user_auctions.php?uid=338173
Grzegorz Kurczyk
Guest
Mon Apr 28, 2008 9:32 pm
Użytkownik BartekK napisał:
Quote:
Swoją drogą (i całkiem nie w temacie chyba) to ciekawą sprawę zauważyłem
z tym Uref. Gdy Uref jest słabo filtrowane (ma szumy z pwm naniesione) a
pomiar jest dokonywany cyklicznie, wyniki z pomiarów sumowane i potem
dzielone przez liczbę pomiarów (przeważnie robię np 64 pomiary a wynik
przesuwałbym w prawo o 6 bitów, przesunę tylko o 5 i mam "bit po
przecinku") to uzyskuję dużo lepszą dokładność niż przy stałym Uref.
Tzn każdy z pomiarów jest dokonywany z pewnym błędem wynikającym z
oscylowania wokoło Uref, ale jak się je uśredni - to wychodzi dokładność
większa niż 1bit/kwantyzacja. Zmiana napięcia wejściowego o wartość
mniejszą niż kwantyzacja (np w podanym przykładzie o mniej niż 0.01v)
już powoduje że wartość średnia z tych 64pomiarów jest już inna.
Taki "oversampling" ? Jak będę miał chwilę to zrobię jakieś pomiary
laboratoryjne takich metod na ADC atmegi, co by wyznaczyć _realne_ błędy
i osiągane dokładności...
Takie powiększenie rozdzielczości ADC było chyba opisywane w jakiejś
nocie Atmela. Polegało to właśnie na podłączeniu "szumofonu" do wejścia
AREF i uśrednianiu pomiarów.
Pozdrawiam
Grzegorz
SĹawomir Szczyrba
Guest
Mon Apr 28, 2008 9:40 pm
Dykus! Cssy... Cssy ja moge s tobą pogadać?
Quote:
Skoro łosiu jeden załączasz i wyłączasz w pętli co chwila ADC,
to się nie dziw takiemu zachowaniu...
Ale można włączać i wyłączać ADC, tylko trzeba czekać na ustabilizowanie
ADC, no i pierwszy pomiar zawsze do koszalina. Czasy są podane w
dokumentacji. O ile dobrze pamiętam załączenie układu BOD sprawia, że
źródło referencyjne pracuje cały czas...
Akurat tym się nie muszę przejmować, mogę załączyć przetwornik na stałe.
Nawet dokładnością się nie muszę za bardzo przejmować (to będzie
regulator do laminatora, +/- kilka stopni krzywdy mu nie zrobi
Po prostu zaskoczyły mnie te skoki Aref. Jak widać niesłusznie,
sam, je w końcu wywołałem :/
Sławek
--
________
_/ __/ __/ General Contact Unit: 'Size Isn't Everything'
\__ \__ \_______________________________________________________________
/___/___/ Sławomir Szczyrba steev/AT/hot\dot\pl
John Smith
Guest
Mon Apr 28, 2008 11:35 pm
Quote:
Wystarczy zerknąć na tabele 66 w pdf-e aby się przekonać - Atmel częścią
analowową się nie przejmuje!
Ano właśnie, dlatego pytam, czy ktoś ma z tym jakieś doświadczenia.
Doświadczeń z ADC już trochę jest...
Quote:
Dryft Vref nawet nie jest badany.
Całe szczęście, że błędy samego przetwornika podają. Ciekawe, czy Vref nie
opisują, bo jest takie słabe, ma żadną stabilność i się wstydzą...?

Dla
mnie byłoby lepiej, gdyby nawet podali 10mV/*C, niż nic.
Zasada jest taka, jak nie podają parametru to znaczy, że go nie testują w czasie
produkcji i z tego powodu jest lepszy uzysk.
Quote:
Miernika to z "tego" lepiej nie robić.
No chyba, że dołączymy zewnętrzne źródło. Fakt jest faktem, że takie w
SOT-23 dużo miejsca nie zajmuje, no ale...
Coś za coś, albo tanio albo dobrze.
Dołączenie zewnętrznego źródła referencyjnego może nie pomóc. Część cyfrowa
mikrokontrolera może zakłócać ADC.
K.
BartekK
Guest
Mon Apr 28, 2008 11:37 pm
Grzegorz Kurczyk pisze:
Quote:
Takie powiększenie rozdzielczości ADC było chyba opisywane w jakiejś
nocie Atmela. Polegało to właśnie na podłączeniu "szumofonu" do wejścia
AREF i uśrednianiu pomiarów.
Cholera, czyli znów wyszło że własnoręcznie odkryłem koło i
wyprowadziłem wzór na jego obwód, gdy ludzie na świecie już produkują
opony... Ale znaczy że dobrze kombinowałem :)
--
| Bartlomiej Kuzniewski
| sibi@drut.org GG:23319 tel +48 696455098
http://drut.org/
|
http://www.allegro.pl/show_user_auctions.php?uid=338173
Wojciech Piechowski
Guest
Tue Apr 29, 2008 8:08 am
Grzegorz Kurczyk pisze:
Quote:
Ale problemem jest również sama dokładność źródła referencyjnego.
Miewałem Atmelki, w których miało ono poniżej 2,3V, a zdarzały się takie
co miały ponad 2,7V. Nawet w nocie aplikacyjnej Atmel przyznaje się do
"widełek" między 2,3 a 2,7V. Samo źródło jest dość stabilne w czasie i
temperaturze, tylko ma "kiepskie warunki początkowe"
Ano podobne rozrzuty widziałem u siebie. Chciałem uniknąć kalibracji
każdej sztuki indywidualnie i zamiast tego program na starcie sam mierzy
jakie rzeczywiście Vref dostaje. Tzn najpierw, gdy prawie wszystko jest
wyłączone, ustawiam ref na Vcc (pochodzi z precyzyjnego stabilizatora, w
tym momencie układ prawie prądu nie ciągnie więc nawet przy prawie
rozładowanej baterii mam tam dość dobre 5V) i robię pomiar wejścia 14
(wewn. 1.30V). Potem mierzę to samo wejście już przy włączonym 2.56V
Vref. Z prostej matematyki wychodzi jak trzeba przeskalować pomiary, i
to nie jest zależne od rozrzutów 1.30V.
WP
Krzysiek
Guest
Tue Apr 29, 2008 4:59 pm
Mario
Guest
Thu May 01, 2008 10:30 am
Dykus pisze:
Quote:
Witam,
Dnia 28.04.08 (poniedziałek), 'John Smith' napisał(a):
Wystarczy zerknąć na tabele 66 w pdf-e aby się przekonać - Atmel częścią
analowową się nie przejmuje!
Ano właśnie, dlatego pytam, czy ktoś ma z tym jakieś doświadczenia.
Dryft Vref nawet nie jest badany.
Całe szczęście, że błędy samego przetwornika podają. Ciekawe, czy Vref nie
opisują, bo jest takie słabe, ma żadną stabilność i się wstydzą...?

Dla
mnie byłoby lepiej, gdyby nawet podali 10mV/*C, niż nic. :)
Miernika to z "tego" lepiej nie robić.
No chyba, że dołączymy zewnętrzne źródło. Fakt jest faktem, że takie w
SOT-23 dużo miejsca nie zajmuje, no ale...
A znasz jakiś dobre, tanie źródło w SOT-23? Ja właśnie zamierzam dać
REF198 (10ppm/C SOIC-

do Atmega32.
--
Pozdrawiam
MD
Goto page Previous 1, 2